Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Saved in:
| 企業作者: | |
|---|---|
| 格式: | 圖書 |
| 語言: | 西班牙语 |
| 出版: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| 主題: | |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
成為第一個發表評論!