Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Formato: Libro
Idioma:Lingua castelá
Publicado: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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