Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | Infante Abreu, Marta Beatriz |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.) |
| פורמט: | Thesis ספר אלקטרוני |
| שפה: | ספרדית |
| יצא לאור: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796 |
| תגים: |
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