Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Salvato in:
| Autore principale: | Infante Abreu, Marta Beatriz |
|---|---|
| Altri autori: | Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.) |
| Natura: | Tesi eBook |
| Lingua: | spagnolo |
| Pubblicazione: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796 |
| Tags: |
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