Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Infante Abreu, Marta Beatriz
Altri autori: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Natura: Tesi eBook
Lingua:spagnolo
Pubblicazione: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Soggetti:
Accesso online:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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